Archiwum
Nowy przewodnik na stronie Keithley
Na stronie internetowej firmy Keithley pojawił się przewodnik po aplikacjach i rozwiązaniach systemów pomiarowych. Na szesnastu stronach pokazane są różne typy aplikacji pomiarowych wraz z przykładową konfiguracją sprzętową, zapewniającą rozwiązanie problemu pomiarowego. Link do pliku.
Semiconductor Device Test Applications Guide
Pojawiła się nowa pozycja w gamie podręczników wydawanych przez firmę Keithley Instruments, Inc.. Jest to podręcznik pt. "Semiconductor Device Test Applications Guide (1st edition: 2008)". Zawarte są w nim informacje na temat aplikacji testujących komponenty półprzewodnikowe z użyciem źródeł mierzących serii 2600. Wszystkich chcących zapoznać się z tą lekturą zapraszamy do pobrania pliku w wersji elektronicznej: więcej>>. Zapraszamy!
Helmar na Automaticon 2012
Serdecznie zapraszamy do odwiedzenia naszego stoiska - E14 w holu głównym - podczas XVIII Międzynarodowych Targów Automatyki i Pomiarów Automaticon 2012. Targi będą odbywały się w dniach od 20 do 23 marca 2012 na terenie Centrum EXPO XXI, Warszawa – Wola, ul. Prądzyńskiego 1.
Katalog CD Keithley 2010
Dostępne jest już najnowsze wydanie katalogu wyrobów firmy Keithley na 2010 rok. Osoby chętne do zapoznania się z aktualną ofertą produktów firmy Keithley prosimy o kontakt z biurem firmy Helmar.
Helmar na ENGEL Roadshow 2010
W dniu 14 kwietnia 2010 roku w Warszawie byliśmy obecni w ramach pokazu ENGEL Roadshow 2010. Dziękujemy wszystkim za przybycie i uczestnictwo.
Helmar na Automaticon 2010
W dniach 23-26 marca 2010 roku byliśmy obecni na targach "AUTOMATICON 2010 - Automatyka Pomiary Elektronika", które odbyły się w Warszawie. Wszystkim odwiedzającym nasze stanowisko serdecznie dziękujemy.
Szkolenie na temat pomiarów w obróbce skrawaniem w siedzibie Helmar
W czerwcu 2009 roku w siedzibie firmy Kistler odbył się kurs na temat pomiarów w obróbce skrawaniem. Kurs przeznaczony był dla inżynierów i techników, którzy pracują w dziedzinie obróbki skrawaniem Szkolenie na podstawie wybranych aplikacji i zagadnień, wyjaśniło uczestnikom istotę pomiarów stosowanych podczas obróbki skrawaniem i zamierzają używać piezoelektrycznych czujników wieloskładowych siły firmy Kistler (dynamometrów).
Kurs obejmował m.in. następujące zagadnienia:
- wstęp do technologii piezoelektrycznej wykorzystywanej w dynamometrach,
- informacje techniczne na temat stosowanych dynamometrów: stacjonarnych i obrotowych,
- dokonywanie pomiarów i akwizycja danych pomiarowych,
- omówienie sił i parametrów obrabialności w procesie obróbki skrawaniem,
- interpretacja wyników pomiarów.
Spotkania i pokazu sprzętu pomiarowego organizowane przez Helmar i Keithley
W dniach 23, 25, 26 czerwca 2009 roku w Warszawie, Łodzi oraz Wrocławiu odbyły się spotkania i pokazy sprzętu pomiarowego zorganizowane wspólnie z firmą Keithley Instruments Inc. - producenta aparatury pomiarowej oraz Suss MicroTec Test Systems GmbH - producenta stacji probierczych i manipulatorów, którą reprezentujemy od 5 maja 2009. Producenci zaprezentowali współdziałanie system 4200-SCS do pomiaru charakterystyk I-V oraz C-V wraz z ręcznym proberem.
Oprócz wspomnianego pokazu delegaci obu firm przedstawili seminaria: S. Koenig - "Measurement challanges on new semiconductor material and devices - Advanced IV/CV/pulsed IV measurement techniques using Keithley 4200 characterization solution" - Keithley Instruments GmbH; A. Schmidt, "New ProbeShield Technology - the next generation of probe-stations for devicecharacterization and modeling" - SUSS MicroTec Test Systems GmbH.
Warsztaty na temat pomiarów siły
W dniach 18 i 20 listopada 2008 roku w Krakowie i Katowicach wraz z firmą Kistler przeprowadziliśmy warsztaty na temat pomiarów siły. Podczas siedmiogodzinnego szkolenia, można było zapoznać się z praktycznymi uwagami dotyczącymi:
- projektowania pomiarów siły
- właściwego montażu i uruchamiania czujników siły
- kalibracji systemów do pomiaru siły oraz prawidłowej ich eksploatacji
Wszystkim uczestnikom szkolenia dziękujemy za uczestnictwo.
Helmar na Akademii Górniczo-Hutniczej
W dniu 3 kwietnia 2008 roku na terenie Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie odbyło się uruchomienie i prezentacja systemu do charakteryzacji struktur półprzewodnikowych 4200-SCS firmy Keithley. Prezentowany system dodatkowo wyposażony był w opcję pomiarów charakterystyk pojemnościowo - napięciowych (C-V).