Keithley S 530 - system charakteryzacji parametrycznej półprzewodników firmy Keithley

System do przeprowadzania testów parametrycznych półprzewodników  DC oraz C-V:

• zakres pomiaru prądów rzędu pA,
• mała upływność układu pomiarowego,
• 20 W źródła mierzące SMU potrafią zapewnić zasilanie prądem o natężeniu do 1 A lub napięciem do 200 V,
• istnieje możliwość konfiguracji do 8 źródeł mierzących SMU,
• opcjonalnie istnieje możliwośc rozszerzenia ekranowania współpracującego z systemem probera,
• system jest kompatybilny z wieloma dostępnymi na rynku proberami,
• pomiary C-V do 2M Hz.

Wersja High Voltage:

• umożliwia pracę źródła napięcia do 1000 V przy prądzie do 10 mA.

Zastosowanie: 

• pomiary DC oraz C-V,
• testy powtarzalności oraz pomiary charakterystyk materiałów półprzewodnikowych.